不知道大家对抛光氧化铝的微观世界有多少了解，接下来就给大家介绍一些相关的知识，今天介绍的是有关它原晶粒度的测定方法，以下总结了五种测定方法，大家可以看一下：

　　1、红外光谱结构分析法

　　由于谱线吸收带的大小与晶粒度的大小有关，可在红外光谱仪的结构中，引入一种吸附带面积积分仪，来算出平均晶粒度。该法分析的用品用量很少，对于晶粒度分布范围宽的样品，如何取得有代表性的样品，仍是客观存在困难。

　　2、X射线衍射法

　　主要是谱线宽化法，该法可测定拟薄水铝石的晶粒度，但a氧化铝粉系列产品的衍射谱线是窄而锐利的，实验表明并不存在“款化效应”，甚至由于矿化剂的影响，造成衍射峰的强度与JCPDS卡片不一致，进而影响到α氧化铝定量分析的准确性。

　　3、氮吸附小比表面法

　　对于多孔活性物质较合适，但由于从高温下获得的a氧化铝粉烧结体是致密的，开气孔和闭气孔均很少，液氮分子难以进入晶粒的间隙，因此测定的范围是有限的，其测定晶粒度的误差也较大，该法的原理限制了其工业应用价值。

　　4、电子显微镜法

　　以化学腐蚀与扫描电镜（SEM）相结合测定晶粒度的方法，该法既直观又可靠，是能反映晶粒形貌、尺寸的有效方法，但设备投资大，分析费用高。

　　5、研磨法

　　早年美国铝业公司的同行来中国时增提到过这种方法，在特定的容积内，以一定的料球比、固定研磨时间（大约为8小时左右），再用粒度分析仪测定粉碎物料的晶粒分布及中位径D50，并用这种方法来实现宏观控制。

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